在im体育APP的测试支持下，找到正确的策略来防止电子元件中的锡晶须生长.
当用作电子元件的饰面材料时, 纯锡可以自发生长导电晶须, 形成意外的电气路径，并可能对所有类型的电子设备造成严重问题. 科学界还没有完全理解锡晶须生长的原因, 但是，对焊料材料和电子元件进行适当的实验室测试有助于大大减轻锡晶须的生长.
直到最近, 大多数电子产品都使用铅焊料, 哪一种在低温下熔化，并且没有同样的生长胡须的倾向, 但RoHS指令禁止在焊料中使用铅, 要求大多数制造商改用无铅替代品. 不幸的是，这增加了锡晶须生长的风险.
锡晶须减缓策略
没有单一的策略来减少锡晶须. 任何缓解策略都将取决于特定的设备. 一些缓解概念如下:
- 使用 保形涂层
- 避免镀锡零件
- 选择哑光或低应力锡面
无论你采用何种策略或策略组合, 测试对于确定您的缓解策略是否已被证明有效至关重要.
锡晶须测试是如何进行的?
锡晶须测试确定了产品对晶须生长的敏感性，并可以确定您的缓解策略是否成功. 样品受到三种主要的环境暴露, 在曝光时间内, 实验室人员定期检查样品是否有锡晶须生长. 这三种暴露分别是:
- 温度循环
- 环境温湿度存储
- 高温高湿储存
根据JEDEC执行锡晶须测试, iNEMI, TSC0507G, TSC7038G和任何客户的特定要求. 我们的专家在测试开始时以及在每个指定的时间/周期间隔使用光学立体显微镜进行筛选检查. 如果在筛选过程中没有观察到锡须的证据, 我们通常不建议进一步检测, 这为我们的客户节省了成本, 然而, 如果有锡晶须存在的证据, 我们使用扫描电子显微镜(SEM)进行详细检查. 这允许表面结构, 异常, 以及需要检测和隔离的污染，以便进一步分析.
im体育APP优势
im体育APP的测试实验室系列为所有类型的电子元件提供全面的测试和故障分析服务. 我们的专家掌握最新的测试方法和标准，并将努力满足您的要求. 与专家讨论我们的锡晶须测试服务或任何其他电子元件测试, 立即im体育APP.
